SCI Библиотека

Пособие содержит основные сведения по метрологическому обеспечению различных технологических операций в сфере наноиндустрии. Рассмотрены становление в XX – XXI вв. и концепции развития нанометрологии. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям – поверке и калибровке сканирующей зондовой микроскопии.

Изложены организационные принципы нанометрологии в России. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и основные направления их исследований в данной области.

Предназначено для студентов и аспирантов, изучающих вопросы нанотехнологии, а также может быть полезно инженерно-техническим работникам, связанным с проблемами наноиндустрии

Основное внимание в книге уделено собственно измерениям неэлектрических величин: методам измерений, схемным вопросам, касающимся процесса измерений, начиная от получения измерительной информации, необходимых преобразований измерительных сигналов, погрешностям измерений, помехам и др. В книге нашли отражение современные технические средства, применяемые для измерений. Для инженерно-технических работников различных отраслей промышленности.

В книге приведены единицы физических величин, применяемые в электронной технике. В связи с переходом на Международную систему единиц излагаются и комментируются ГОСТ 8.417-81 (СТ СЭВ 1052-78) «Единицы физических величин» и методические указания по его внедрению и применению. Даны коэффициенты для перевода в СИ наиболее распространенных единиц прежних систем. Рассмотрен вопрос рационализации уравнений электромагнетизма.

Основной целью освоения дисциплины является формирование совокупности теоретических знаний и практических навыков в области оценке надежности технических систем и осуществлению мероприятий по её повышению. Методическое пособие формирует способность к принятию организационно-управленческих решений и готовность нести за них ответственность, а также использованию основных законов естественнонаучных дисциплин в профессиональной деятельности, применение методов математического анализа и моделирования, а также навыкам разработки и использования графической технической документации в соответствии с формируемыми компетенциями. Основные понятия и определения теории надежности. Структура и понятие надежности и технических систем, основные свойства надежности и их параметры. Сбор и обработка опытной информации о работоспособности технических систем при эксплуатации. Основные закономерности изнашивания объектов, классификация отказов. Изучение методов статистической обработки информации при управлении качеством продукции. Математическая обработка опытной информации. Графические методы обработки информации. Конструктивные, технологические и эксплуатационные мероприятия повышения надёжности.

Учебник предназначен для студентов СПО, обучающихся по специальностям: «Компьютерные сети», «Компьютерные сети и комплексы», «Информационные системы» (по отраслям). Разработан на основании требований к данной дисциплине ФГОС-3 в соответствии с типовыми программами. Изложены нормативные, организационные, научно-методические и юридические положения современных стандартов, касающиеся технического регулирования, метрологии, стандартизации, сертификации и оценки качества в Российской Федерации и на международном уровне. Особенность учебника, отличающего его от аналогичных изданий, состоит в том, что в нем представлены разделы, посвященные вопросам технического регулирования и документоведения. Может быть полезен также для специалистов предприятий, занимающихся вопросами технического регулирования, метрологии, стандартизации, сертификации и оценки качества продукции

В настоящем учебном пособии рассмотрены основные проблемы и задачи метрологического обеспечения систем измерения и управления технологическими параметрами и их составляющих, возникающие перед разработчиками и пользователями в связи с действующими в настоящее время общероссийскими нормативными документами, регламентирующими общие требования и методы метрологического обеспечения измерительных систем.Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению 15.04.04 «Автоматизация технологических процессов и производств», профиль подготовки «Системы автоматизации и управления технологическими процессами» и бакалавров, обучающихся по направлениям 27.03.04 «Управление в технических системах» и 15.03.04 «Автоматизация технологических процессов и производств».

Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур».

Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия».

Книга посвящена вопросам измерения физических величин, истории эталонов, существовавших в разных странах в разное время. Сделана попытка проанализировать истоки возникновения различных единиц измерения и эволюцию их развития.

Современное состояние стандартизации эталонов физических величин рассмотрено на основе международной системы SI. Описаны физические принципы определения эталонов основных единиц системы SI на различных этапах развития и их связь с развитием современной физики.

Рассмотрены сопутствующие вопросы, связанные с использованием эталонов физических величин при описании физической картины окружающего нас мира.

Может быть использована студентами технических ВУЗов в качестве дополнительного учебного пособия по курсу фи-зики и метрологии.

Учебное пособие включает в себя 7 лабораторных работ по курсу «Физические основы продукции высокотехнологичного производства».

Предназначено для студентов направления «Инноватика».