Методические указания содержат теоретические сведения о методах атомно-силовой микроскопии, принципах формирования изображений поверхности в результате АСМ-диагностики, описание хода выполнения лабораторных работ, варианты индивидуальных заданий и формы представления отчетов по лабораторным работам. Предназначены для студентов профиля подготовки «Нанотехнологии и наноматериалы».
Приводятся основные сведения из теории электромагнитного поля и теории электрических СВЧ-цепей. На базе этих сведений рассматриваются физические основы, принципы действия и аналитические соотношения для расчета СВЧ-устройств и электромагнитных экранов радиоэлектронных средств. Излагаются вопросы выбора материалов, особенности технологии производства изделий СВЧ, а также особенности автоматизации проектирования СВЧ-устройств.
Для студентов вузов, обучающихся по специальности «Конструирование и производство радиоэлектронных средств», может быть полезна для инженеров и научных работников.
