Систематически и доступно излагается одно из актуальных направлений развития современной науки — физика частично упорядоченных сред, легко подвергающихся изменениям под влиянием сравнительно слабых внешних воздействий. Такие среды обычно называют «мягкой материей» (soft matter); сейчас все знают об использовании таких материалов, например, жидких кристаллов в дисплеях телефонов и компьютеров. Большое внимание уделяется экспериментальным фактам, составляющим фундамент этой области естествознания, которая в свою очередь лежит в основе понимания молекулярного и надмолекулярного устройства нынешних и будущих высокотехнологичных материалов. По сравнению с другими областями физики эксперименты здесь не столь дорогостоящие и в большинстве случаев доступны даже для учебных лабораторий. Изложение теории и эксперимента хорошо иллюстрировано и сопровождается упражнениями.
Для физиков, биологов, химиков и инженеров — научных работников, студентов и аспирантов.
Настоящая книга, написанная известным английским кристаллографом Дж. Наем, посвящена вопросам связи физических свойств кристаллов с их симметрией. Изложены основы геометрической кристаллографин, теория электрических, магнитных, тепловых, упругих и оптических свойств кристаллов; имеются полезные задачи и упражнения. Эта книга является единственным в мировой литературе учебным пособием по современной тензорной кристаллофизике, широко используемым при изучении физики твердого тела, кристаллофизики и отдельных их разделов в ряде университетов и физико-технических вузов. Кроме того, она стала необходимым справочным руководством для специалистов по кристаллофизике и физике твердого тела.
В настоящем втором издании учтены изменения, внесенные автором при переизданиях книги в Англии.
Монография посвящена неодномерным упруго-пластическим задачам. Рассмотрены сдвиг, кручение, плоская: деформация, плоское напряженное состояние, пространственная задача и смежные вопросы. Даны наиболее важные аналитические решения и приведена сводка некоторых численных результатов.
Книга предназначена для научных работников, специализирующихся по механике деформируемого твердого тела, и инженеров, имеющих дело с расчетами на прочность.
В книге кратко излагаются основы теории дислокаций — линейных дефектов структуры кристаллов, которыми определяются механические, а также многие физические и химические свойства твердых тел.
Книга рассчитана на широкий круг специалистов в разных областях науки и техники, желающих получить представление о дислокациях в кристаллах или приступить к изучению этой области физики.
Как труд одного из создателей теории дислокаций, книга представляет интерес также и для специалистов по физике твердого тела.
Справочник по технологии тонких пленок — наиболее современное и фундаментальное издание, посвященное тонким пленкам твердых веществ, находящим широкое применение в микроэлектронике, оптике, магнитной технике, СВЧ и космической технике и др. Справочник издается в двух томах. В т. 1 включены гл. 1—7, в т. 2 — гл. 8—21.
В т. 2 справочника рассмотрены особенности тонких пленок: их рост и структура, методы ее исследования, толщина и химический состав пленок, а также зависимость их структуры от технологии.
Излагаются физические свойства полупроводниковых диэлектрических, ферромагнитных, пьезоэлектрических и сверхпроводящих пленок и зависимость параметров пленок от технологии. Отражены также основные направления применения тонких Пленок в интегральных микросхемах, СВЧ устройствах, создании дискретных электронных элементов.
Книга является универсальным справочным пособием для широкого круга инженеров и конструкторов радиоэлектродной аппаратуры, разработчиков интегральных микросхем и радиоэлектронных элементов, научных работников, аспирантов и студентов, специализирующихся в области микроэлектроники, физики и технологии изготовления тонких пленок.
Проблема роста тонких пленок сложна и многогранна, отдельным ее аспектам посвящен ряд обзоров и монографий. Цель настоящей монографии - дать с единых позиций последовательный количественный анализ ростовых закономерностей и морфологических изменений в тонких пленках, растущих по островковому механизму, на всех стадиях конденсации, от зарождения до формирования сплошного слоя. Отличительной особенностью анализа является учет существенно статистической природы коллектива растущих и взаимодействующих островков, из которого в конечном итоге и формируется сплошная пленка.
В монографии подробно рассмотрены различные аспекты существующих теорий теплового расширения твердых тел: вопросы взаимосвязи теплового расширения с другими свойствами твердых тел, влияние различных факторов на величину теплового расширения; методы исследования, охватывающие область от 1,5 до 4000° К; экспериментальные результаты исследований теплового расширения элементов периодической системы, полупроводниковых соединений, сталей и железоникелевых сплавов. Представлен большой справочный материал.
Книга рассчитана на широкий круг специалистов в области физики твердого тела и физико-химии.
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная массспектрометрия и полевая массспектрометрия.
Предназначена для широкого круга научных работников физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров н технологов, а также для преподавателей нузов и студентов соответствующих специальностей.
Задачник содержит более 350 оригинальных задач по основным разделам кристаллофизики, которые дают возможность уяснить физический смысл различных коэффициентов, характеризующих свойства кристаллов, оценить их величину и анизотропию, а также выбрать оптимальные значения коэффициентов в зависимости от конкретных условии практического применения кристаллов. В задачник включены также краткие теоретические сведения и справочные данные, облегчающие решение задач и дающие наглядное представление о порядках реальных крпсталлофпзпческпх характеристик. Настоящее издание дополнено задачами по свойствам кристаллов, получивших применение в новейших приборах электронной техники (пьезорезпстпвные свойства, нелинейные оптические свойства и др.).
В третьем томе комплекса учебников серии «Прикладная механика сплошных сред» изложены вопросы использования разностных методов вычислительной математики применительно к задачам физики быстропротекающих процессов. Рассмотрены фундаментальные понятия теории разностных схем, представлены основные разностные схемы и методы численного решения одномерных задач: сеточные методы, численный метод характеристик, методы семейства «частиц в ячейках». Приведены постановки, алгоритмы численного решения и результаты решения ряда одномерных и двумерных нестационарных задач при использовании лагранжевых, эйлерово-лагранжевых и эйлеровых методов. Обсуждены проблемы технологии проведения вычислительного эксперимента и приведены примеры, демонстрирующие возможности численного моделирования как инструмента исследования быстропротекающих процессов.
Материал этого учебника предназначен для первоначального ознакомления учащихся высших технических учебных заведений с теорией разностных схем и основами практического использования численных методов при решении задач физики взрыва и механики высокоскоростного соударения различных деформируемых тел и сред. В основу учебника положен материал лекций, читаемых авторами студентам МГТУ им. Н.Э. Баумана.
Для студентов технических университетов и вузов.
