Статья: Влияние атомов хрома и железа на процессы дефектообразования в кремнии (2019)

Читать онлайн

В данной работе исследовано влияние атомов хрома и железа на процессы дефектообразования в кремнии. Установлено, что при совместном введении хрома и железа в кремний одновременно с уменьшением концентрации уровней Ес – 0,41 эВ и Ес – 0,51 эВ (для Cr) и Еv + 0,41 эВ (для Fe) наблюдается образование нового уровня в верхней половине запрещенной зоны с энергией ионизации Ес – 0,30 эВ, который, вероятно, связан с примесной парой Cr с Fe в Si. Обнаружено, что уменьшение концентраций оптически активных атомов углерода и кислорода NС опт и NО опт зависит от концентрации электрически активных атомов хрома и железа и составляет 10–25 % для кислорода, а величина NС опт почти не меняется.

Consideration is given to the effect of chromium and iron atoms on the processes of defect formation in silicon. It was found that with the simultaneous introduction of chromium and iron into silicon simultaneously with a decrease in the concentration of the levels Ec – 0.41 eV and Ec – 0.51 eV (Cr) and Ev + 0.41 eV (Fe), a new level is formed in the upper half of the band gap with the ionization energy Ec – 0.30 eV, which is probably associated with an impurity pair of Cr with Fe in Si. It was found that the decrease in NC opt and NO opt depends on the concentration of electrically active atoms of chromium and iron. It is 10–25 % for oxygen, and the value of NC opt almost does not change.

Ключевые фразы: межпримесное взаимодействие, глубокий уровень, инфракрасние поглощение, ДЕФЕКТООБРАЗОВАНИЕ, хром, железо, кремний
Автор (ы): Утамурадова Шарифа Бекмурадовна, Далиев Хожакбар Султанович, Далиев Шахрух Хожакбарович, Файзуллаев Кахрамон Махмуджанович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
eLIBRARY ID
41716455
Для цитирования:
УТАМУРАДОВА Ш. Б., ДАЛИЕВ Х. С., ДАЛИЕВ Ш. Х., ФАЙЗУЛЛАЕВ К. М. ВЛИЯНИЕ АТОМОВ ХРОМА И ЖЕЛЕЗА НА ПРОЦЕССЫ ДЕФЕКТООБРАЗОВАНИЯ В КРЕМНИИ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2019. №6
Текстовый фрагмент статьи