Доклад: Технологические аспекты понижения дефектности контактного анкера в массиве термочувствительных элементов, изготавливаемых по МЭМС-технологии

Написать
В расписание
Поделиться
Докладчик
Юркин Никита Олегович
Маппер
Автор(ы)
Юркин Н. О.
Соавтор(ы)
Платонов Д. Д., Мелехин М.А., Соловьев А. А., Ткаченко А. В.
Тип доклада
Устный
Конференция
12 СЕКЦИЯ «ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ И ФОТОНИКИ» РОССИЙСКОГО ФОРУМА «МИКРОЭЛЕКТРОНИКА»
Секция программы
Секция №12.1 ТЕХНОЛОГИИ ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ И ФОТОНИКИ. ОПТО- И ФОТОЭЛЕКТРОНИКА
Дата и время
пятница, 26 сен (начало в 10:20)

Видео запись

Видео доклада ещё не загружено.

Статистика доклада

Статистика просмотров за 2025 год.

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Создать тему обсуждения
Другие доклады секции: 10
09:00 | Технология производства плоскопанельных дисплеев и развитие индустрии OLED технологий в дисплейной отрасли
Нуриев Александр Вадимович•ЦИКЛОН
09:20 | Перспективные технологии создания микродисплеев
Кнышев Сергей Реональдович•ЛАЗЕРНЫЕ КОМПОНЕНТЫ
09:40 | Применение методов фотолитографии и прямой печати при создании фоточувствительных структур на основе ККТ PbS
Мирофянченко Екатерина Васильевна•АО ″НПО ″ОРИОН″
10:00 | Оптико-электронный канал тепловой пеленгации на основе микроболометрического ФПУ
Серов Виталий Витальевич•ОКБ АСТРОН
10:20 | Технологические аспекты понижения дефектности контактного анкера в массиве термочувствительных элементов, изготавливаемых по МЭМС-технологии
Юркин Никита Олегович•Маппер
10:40 | Инженерный анализ в разработке и конфигурировании стендов и систем стыковки оптических каналов ФИС
Новиков Евгений Сергеевич•ИННФОКУС
11:00 | Кофе-брейк
11:30 | Отечественные МКС для серийных перспективных матричных ФПУ
Бабенко Дмитрий Дмитриевич•АО ″НПО ″ОРИОН″
11:45 | Разработка МКС типа «Сплит-Стирлинг»
Оганесян Николайос Норикович•ОКБ АСТРОН
12:00 | ИК-сенсоры в условиях глобальной конкуренции: анализ технологий, сравнение мировых решений и прикладное использование
Бокатый Илья Олегович•ООО ″СДС″
12:15 | Анализ характеристик различения тепловых объектов оптико-электронными системами с микроболометрическими матричными детекторами
Шилейко Никита Аркадьевич•ОКБ АСТРОН
12:30 | Характеристики матричных ИС считывания для перспективных приложений опто- и фотоэлектроники
Болтунов Денис Владимирович•НИЦ ″Курчатовский институт″
12:45 | Дискуссии, вопросы
13:00 | Обед