Доклад: Статистический анализ результатов контроля спектральных характеристик матричных фотоприёмников

Написать

В расписание

Докладчик

Давлетшин Ренат Валиевич

АО ″НПО ″ОРИОН″

Автор(ы)

Давлетшин Ренат Валиевич

Соавтор(ы)

Шаров А.А.

Тип доклада

Устный

Конференция

XIV Научно-практическая конференция молодых учёных и специалистов

Секция программы

Секция 1. Научные достижения молодых учёных.

Дата и время

пятница, 07 фев (начало в 10:15)

Видео трансляции

Обратите внимание: на видео-записи вся секция в которой участвовал данный доклад.

Видео трансляции доступно только авторизованным пользователям.

Войти в кабинет

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Создать тему обсуждения

Другие доклады секции: 16

10:00 | Особенности методики измерения фотоэлектрических параметров лазерных гетеродинных фотоприёмных устройств

Кучин Денис Дмитриевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:15 | Статистический анализ результатов контроля спектральных характеристик матричных фотоприёмников

Давлетшин Ренат Валиевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:30 | Ячейки считывания с увеличенной зарядовой емкостью для использования в ИК ФПУ

Шумейко Мария Андреевна•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:45 | Анализ надёжности фотомодуля с цифровыми выходами

Романов Евгений Константинович•АО ″НПО ″ОРИОН″

11:00 | Метод «виртуальной миры»: измерение пространственного разрешения, реализуемого ОЭС ДЗЗ, без необходимости формирования специальных тест-объектов

Кривоклякин Григорий Дмитриевич

11:15 | Применение in situ эллипсометрии для определения структурных и оптических характеристик гетероэпитаксиальных структур CdxHg1-xTe/GaAs(001)

Грекова Анастасия Александровна

11:30 | Перерыв

11:45 | Взаимосвязь электрофизических и структурных свойств пленок HgTe, полученных методом МЛЭ на подложках GaAs

Гладышева Кристина Анатольевна

12:00 | Исследования особенностей поверхности эпитаксиальных пленок HgTe методом дифференциальной интерференционно-контрастной микроскопии

Антонова Валерия Евгеньевна

12:15 | Характеризация эпитаксиальных пленок CdTe, выращенных методом МЛЭ на подложках GaAs, методами атомно-силовой микроскопии и спектроскопии фотолюминесценции

Косякова Анастасия Михайловна

12:30 | Оптические свойства и удельная обнаружительная способность фоточувствительных слоев на основе коллоидных квантовых точек

Деев Герман Юрьевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

12:45 | Вольт-фарадные характеристики барьерных структур на коллоидных квантовых точках сульфида свинца

Павлова Валерия Денисовна•АО ″НПО ″ОРИОН″

13:00 | Обед

14:00 | Влияние термоциклирования от комнатной до температуры жидкого азота на надёжность сканирующего ФПУ ИК-диапазона космического применения

Кучин Денис Дмитриевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

14:15 | Влияние структурных дефектов в антимониде индия на качество тепловизионного изображения фотодиодных матриц

Новиков Иван Валерьевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

14:30 | Влияние кристаллографических ориентаций плоскости поверхности пластин антимонида индия и направления выращивания исходных слитков на плотность дефектов, выявляемых химическим травлением

Фазилова Инна Эдуардовна

14:45 | Разработка алгоритма поиска экстремумов при обработке изображений

Бондарчук Марк Андреевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

15:00 | Методы проведения испытаний микроболометрических фотоприемных устройств на воздействие внешних факторов среды

Шилейко Никита Аркадьевич•ОКБ ″АСТРОН″

15:15 | Анализ и моделирование конструкции кремниевого фотонного переключателя с подвижными направленными ответвителями

Ткаченко Алексей Вячеславович•Маппер

15:30 | Перерыв (подсчёт баллов)