Доклад: Применение in situ эллипсометрии для определения структурных и оптических характеристик гетероэпитаксиальных структур CdxHg1-xTe/GaAs(001)

Автор(ы)
Грекова А.А.
Соавтор(ы)
Климов Е.А., Виниченко А.Н.
Тип доклада
Устный

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Другие доклады секции: 16
11:15 | Применение in situ эллипсометрии для определения структурных и оптических характеристик гетероэпитаксиальных структур CdxHg1-xTe/GaAs(001)
11:30 | Перерыв
13:00 | Обед
15:30 | Перерыв (подсчёт баллов)