Статья: Влияние процессов отжига на время жизни носителей заряда и его однородность в пластинах кремния n-типа

Показано, что предварительная термическая обработка в кислороде и азоте при 1150 С в течение нескольких часов значительно снижает неравномерность в распределении времени жизни неосновных носителей заряда в кремнии, выращенном методом Чохральского, при последующих диффузионных процессах. Полученный результат объясняется образованием при отжиге приповехностной зоны с пониженной концентрацией кислорода, в которой подавляется рост кислородных преципитатов.

Информация о документе

Формат документа
PDF
Кол-во страниц
1 страница
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем
Просмотров
7

Информация о статье

ISSN
1996-0948
EISSN
2949-561X
Префикс DOI
10.51368/1996-0948-2022-3-43-48
Журнал
Прикладная физика
Год публикации
2022
Автор(ы)
Вильдяева М. Н., Климанов Е. А., Макарова Э. А., Скребнева П. С.
Каталог SCI
Физика