Статья: Применение статистических методов контроля технологических процессов для повышения надежности проектирования сверхвысокочастотных монолитных микросхем (2018)

Читать онлайн

В статье описаны основные принципы построения системы контроля и статистического описания матрицы параметров технологических процессов изготовления библиотек стандартных элементов на основе полупроводниковых гетероструктур, используемых для проектирования и производства компонентов твердотельной сверхвысокочастотной техники. Показано, что определение «среднестатистического» состояния такой матрицы, отвечающего нахождению значений всех параметров в границах, обусловленных естественной изменчивостью технологического процесса, многократно повышает надежность проектирования сверхвысокочастотных монолитных интегральных микросхем (СВЧ МИС) и сходимость экспериментальных параметров с расчетными данными. Описанный алгоритм позволяет создавать комплексы правил и средств проектирования СВЧ МИС, не уступающие лучшим мировым аналогам.

The paper reports main principles of process technology monitoring routines developed to describe matrix of parameters during the manufacture of monolithic microwave integral circuits MMIC (MMIC) primitive`s libraries based on semiconductor heterostructures. Similar routines have been adopted by world’s foundries for MMIC design and manufacturing. It is shown that the «golden die», determined as a physical cell having all the parameters confined in the range predicted by the technology variability, essentially improves the model convergence to experimental data and thus reliability of MMIC design. The algorithm used allows us to create MMIC Process Design Kits competitive to the world industry leaders.

Ключевые фразы: свч мис, правила и средства проектирования, параметрический монитор, библиотека стандартных элементов
Автор (ы): Калякин Максим Александрович, Красовицкий Дмитрий Михайлович, Стрельников Сергей Игоревич, Филаретов Алексей Гелиевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
537.86. Электромагнитные колебания и волны. Радиофизика
621.315.592. Полупроводники
eLIBRARY ID
36685988
Для цитирования:
КАЛЯКИН М. А., КРАСОВИЦКИЙ Д. М., СТРЕЛЬНИКОВ С. И., ФИЛАРЕТОВ А. Г. ПРИМЕНЕНИЕ СТАТИСТИЧЕСКИХ МЕТОДОВ КОНТРОЛЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ДЛЯ ПОВЫШЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНЫХ МОНОЛИТНЫХ МИКРОСХЕМ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2018. №6
Текстовый фрагмент статьи