Статья: Влияние вольфрама на скорость поверхностной рекомбинации в кремнии (2018)

Читать онлайн

Проведено исследование влияния вольфрама на время релаксации фотопроводимости в кремнии. Была выяснена роль вольфрама на скорость поверхностной рекомбинации носителей заряда в кремнии после термообработки. Определены скорости поверхностной рекомбинации носителей заряда в кремнии после термообработки в присутствии вольфрама и без него. Получено аномальное уменьшение скорости поверхностной рекомбинации носителей заряда в кремнии в присутствии вольфрама. Дано возможное объяснение этого явления.

A study was made the influence of tungsten on the time relaxation photoconductivity in silicon. The role of tungsten on the rate surface recombination charge carriers in silicon after heat treatment was determined. The rates surface recombination of charge carriers in silicon after heat treatment in the presence of tungsten and without it have been determined. An anomalous decrease in the rate surface recombination of charge carriers in silicon in the presence of tungsten was obtained. A possible explanation of this phenomenon is given.

Ключевые фразы: релаксация фотопроводимости, термообработка кремния с вольфрамом, скорость поверхностной рекомбинации
Автор (ы): Цвигун Наталья Викторовна, Копица Геннадий Петрович, Власова Татьяна Викторовна, Крыштоб Виталий Ильич, Расмагин Сергей Иосифович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
53. Физика
eLIBRARY ID
35193312
Для цитирования:
ЦВИГУН Н. В., КОПИЦА Г. П., ВЛАСОВА Т. В., КРЫШТОБ В. И., РАСМАГИН С. И. ВЛИЯНИЕ ВОЛЬФРАМА НА СКОРОСТЬ ПОВЕРХНОСТНОЙ РЕКОМБИНАЦИИ В КРЕМНИИ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2018. №3
Текстовый фрагмент статьи