1. Fuchs K. The conductivity of thin metallic lms according to the electron theory of metals // Mathematical Proceedings of the Cambridge Philosophical Society. Vol. 34, Issue 1. January 1938. P. 100-108. DOI: 10.1017/S030500410001995211
2. Суху Р. Магнитные тонкие пленки. М.: Мир, 1967. 423 с.
3. Хасс Г. Физика тонких пленок. М.: Мир, 1967. Т. 2, 343 с.
4. Майссел Л., Глэнк Р. Технология тонких пленок. Справочник. М.: Мир, 1977. Т. 1. 768 с.
5. Sondheimer E. H. The mean free path of electrons in metals // Advances in Physics. Vol. 50. 2001. Issue 6. P. 499-537. DOI: 10.1080/00018730110102187
6. Zavitaev E.V., Yushkanov A.A. High-frequency admittance of a thin circular metal wire // Russian Microelectronics. 2008. Vol. 37. No. 6. P. 373-381. DOI: 10.1134/S1063739708060048
7. Кузнецова И.А., Чапкин А.В., Юшканов А.А. Влияние механизма поверхностного рассеяния электронов на высокочастотную проводимость тонкой металлической проволоки // Микроэлектроника. 2011. Т. 40. № 1. С. 45-51. DOI: 10.1134/S1063739710061022
8. Vashchenko E.V., Gladskikh I.A., Przhibel’skiˆı S.G., Khromov V.V., Vartanyan T.A. Conductivity and photoconductivity of granular silver lms on a sapphire substrate // Journal of Optical Technology. 2013. Vol. 80. No. 5. P. 263-268. DOI: 10.1364/JOT.80.000263
9. Каминский В.В., Сидоров В.А., Степанов Н.Н., Казанин М,М., Молодых А.А., Соловьев С.М. Электропроводность и зонная структура тонких поликристаллических пленок EuS // Физика твердого тела. 2013. Т. 55. № 5. С. 991-994. DOI: 10.1134/S106378341302011X
10. Латышев А.Н., Юшканов А.А. Определение толщины нанопленки с помощью резонансных частот // Квантовая электроника. 2015. Т. 45. № 3. С. 270-274. DOI: 10.1070/QE2015v045n03ABEH015379
11. Wang W., Li N., Li X., Geng W., Qiu S. Synthesis of metallic nanotube arrays in porous anodic aluminum oxide template through electroless deposition // Materials Research Bulletin. 2006. Vol. 41. No. 8. P. 1417-1423. DOI: 10.1016/j.materresbull.2006.02.011
12. Мухуров Н.И. Доклады БГУИР. 2013. 10. 71 (1).
13. Войтович И.Д., Лебедева Т.С., Шпилевой П.Б., Беднов Н.В. Наносистемы, наноматериалы, нанотехнологии. 2014. 12 (1). 169.
14. Kuznetsova I.A., Romanov D.N., Savenko O.V., Yushkanov A.A. Calculating the high-frequency electrical conductivity of a thin semiconductor lm for di erent specular re ection coe cients of its surface // Russian Microelectronics. 2017. Vol. 46. No. 4. P. 252-260. DOI: 10.1134/S1063739717040059
15. Завитаев, Э. В., Русаков О.В., Чухлеб Е.П. Расчет напряженности электрического поля и плотности тока внутри тонкого металлического слоя с учетом скин-эффекта // Микроэлектроника. 2023. Т. 52. № 1. С. 32-45. DOI: 10.31857/S0544126922700193
16. Кондратенко А.Н. Плазменные волноводы. М.: Атомиздат, 1976. 232 с.
17. Pitarke J.M., Silkin V.M., Chulkov E.V., Echenique P.M. Theory of surface plasmons and surface-plasmon polaritons // Reports on Progress in Physics. 2007. Vol. 70. No. 1. P. 1-87. DOI: 10.1088/0034-4885/70/1/R01
18. Latyshev A.V., Yushkanov A.A.Interaction of electromagnetic H-wave with thin metal lm // Russian Microelectronics. 2012. Vol. 41. No. 1. P. 25-30. DOI: 10.1134/S1063739712010076
19. Лесскис А.Г., Пастернак В.Е., Юшканов А.А. Поглощение инфракрасного излучения в мелкой металлической частице // Журнал экспериментальной и теоретической физики. 1982. Т. 83. № 1. С. 310-317.
20. Utkin A. I., Yushkanov A.A. E ect of the re ection coe cients on the conductivity of a thin metal layer in the case of an inhomogeneous time-periodic electric eld // Russian Microelectronics. 2016. Vol. 45. No. 5. P. 357-366. DOI: 10.1134/S1063739716050103
21. Харрисон У. Теория твёрдого тела. М.: Мир, 1972. 616 с.